上海合新检测科技有限公司

Shanghai Hexin Testing Technology Co., LTD

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产品介绍

脑电性能测试仪 (SEEG 100)

专为法规标准设计的 EEG 脑电性能测试仪,符合国际标准:IEC 60601-2-26:2012、GB 9706.226-2021、JJG 1043、JJF 1388、JJF 1390。
材质:金属等复合材料
产品详情

技术参数

1. 主输出电压精确度:+1%(在 50uVpp 或更高的振幅)

2. 主输出电压分辨率(DAC 分辨率):0.5μV

3. 频率/脉冲重复率精确度:+0.1%

4. 脉冲间期/时间精确度:+0.2ms

5. 电阻容忍度:±0.5%

6. 电容容忍度:+5%

7. 精密 1000:1 分压器:+0.05%

8. 取样率:5kHz± 0.05%(50ppm)


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